RND

 

'Connect HITS'


세계 반도체/디스플레이 장비산업을 선도하는 글로벌 기업

KEY TECHNOLOGY



끊임없는 기술 개발을 향한 도전

Automation 및 Vision 분야 선도 기술을 보유하고 있습니다.


HITS만의 특화된 보유 기술


SemiconductorDW-AVI SystemW/D, D/A 공정 상의 2D 고속 검사 / 3D Height 측정
SemiconductorMold AOI SystemMold 외관 검사
SemiconductorF/C Bonding Auto Loader & UnloaderPCB & Jig Vision Alignment & Auto Loading
SemiconductorModule Inline System Automatic Module Test Handler / 전산자동화
SemiconductorPacking Inline Automated SystemTray / Reel Packing 물류자동화/ 전산자동화
SemiconductorWafer 3D Measuring SystemWafer Thickness 측정
SemiconductorTSV 3D Measuring SystemVia-hole, A/R 3D 측정
SemiconductorNIR Crack Inspection System(M/Z to M/Z)FCBGA TOP/BTM NIR 비전 Crack 검사
SemiconductorSWIR Defect Inspection System(M/Z to M/Z, Tray to Tray) FCBGA SWIR 비전 Crack 검사
Display (Film, LCD, OLED)Film Auto Attach & Surface InspectionMOF, Prism, Diffuser, Polarizer 필름검사
Display (Film, LCD, OLED)Copper Foil Surface Inspection SystemCopper 표면검사
Display (Film, LCD, OLED)Glass Surface Inspection SystemGlass Cutting면, 표면, 미세 크랙 등 비전 검사
Display (Film, LCD, OLED)Lighting Inspection SystemPanel 점등 시 불량 화소 검사 및 Repair 좌표 측정
Display (Film, LCD, OLED)BLU_CG Attach System특허
Secondary BatteryBattery Surface Inspection System용접 품질, 표면 검사
Secondary BatteryBattery Film Surface Inspection System권취기 상에서의 Laser Notching 상태 품질 검사

HITS 특허인증서



특허로 보호 받는 HITS 기술



DisplayLine Scan Camera를 이용한 LCD 패널의 에지면 검사방법특허
DisplayLCD 패널의 측면 검사 장치 및 방법특허
DisplayLCD 셀의 에지 검사 장치실용신안
DisplayLCD Edge Grinder Vision Program프로그램등록
DisplayLCD Edge면의 Burr, Chipping, Broken 등 Vision Program프로그램등록
DisplayLCD Cell Inspection Vision System국제특허
Display권취기에서의 자재 검사 시스템특허출원중
DisplayProbe 이용한 높이 측정 시스템특허출원중
DisplayPOP Mold 검사 시스템특허출원중
DisplayPOP Mold 조명 시스템특허출원중
Semiconductor반도체 Ball attach & PRS Vision Program프로그램등록
Semiconductor반도체 Marking Inspection Vision Program프로그램등록
Semiconductor반도체 패키지검사 시스템 및 반도체 패키지검사 시스템에 의한 검사방법특허
Semiconductor와이어본딩 검사 장치특허
SemiconductorSemiconductor Package Inspection System and Inspection Method Using Semiconductor Inspection System국제특허
Semiconductor반도체 JEDEC Tray Inline Packing 장비 및 방법특허출원중
Semiconductor반도체 7"/13" Reel Packing 장비 및 방법특허출원중
Other평형기관의 장애 여부를 자동으로 측정하는 장치 및 방법실용신안